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多功能原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscope,AFM)是一種重要的納米尺度表面形貌和力學(xué)性質(zhì)測量工具。它利用微小的探針來掃描樣品表面,并通過測量應(yīng)力或位移來生成高分辨率的圖像。它具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,包括材料科學(xué)、納米技術(shù)、生物醫(yī)學(xué)等。通過不同模塊的組合,可以實現(xiàn)對材料的形貌、力學(xué)、電學(xué)和磁學(xué)性質(zhì)的綜合......
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原子力顯微鏡用防震平臺是一種高分辨率顯微鏡,能夠在原子尺度上進行表面成像和力學(xué)測量。它的運行需要一個非常穩(wěn)定的環(huán)境。因為任何外部振動都可能干擾到成像過程中的原子級別的細微變化。因此,為了確保原子力顯微鏡用防震平臺的精準性,防震平臺是必須的。防震平臺是一種可以抑制外部振動的設(shè)備,展示平坦的表面以及對系統(tǒng)的制動力,并且通過......
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低溫掃描探針顯微鏡是一種高分辨率的表面成像技術(shù),它通過在非常低的溫度下對樣品進行掃描和檢測來獲得微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)信息。這種技術(shù)可以用于研究許多不同類型的材料,包括納米結(jié)構(gòu)、超導(dǎo)體、有機材料和金屬合金等。基于掃描隧道顯微鏡(STM)的原理,但它比STM多了一個重要的特點:在非常低的溫度范圍內(nèi)操作。低溫能夠減緩或消除許多熱噪......
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針式掃描原子力顯微鏡是一種利用量子隧穿現(xiàn)象的顯微鏡,可以進行原子級的表面成像。核心部分是一個非常尖銳的針,一端與被測樣品表面相距約0.1納米。當(dāng)針尖靠近樣品表面時,電勢差將導(dǎo)致電流從針尖向樣品表面流動。通過控制電流的大小,可以得出樣品表面的形狀信息。能夠?qū)崿F(xiàn)原子級別的成像,不僅可以觀察單個原子和分子的結(jié)構(gòu),還可以研究它......